Microscopio de rayos X

2002/08/14 Carton Virto, Eider - Elhuyar Zientzia

• Fisika

Los rayos X son utilizados desde hace tiempo en la cristalografía para la detección de átomos, pero, desgraciadamente, sólo es válido para las estructuras que forman los cristales, es decir, para los casos en los que los átomos se disponen regularmente. Y en nuestro entorno hay muchas estructuras que no lo son, como células o polímeros.

Investigadores de la Universidad Standford afirman haber desarrollado un microscopio capaz de visualizar estos átomos. El nuevo dispositivo es híbrido, ya que combina las características de la cristalografía con el microscopio. La muestra es bombardeada con una serie de rayos X que actúan como una sola onda, es decir, una serie de rayos X coherentes. El choque con la muestra produce perturbaciones en los rayos y, precisamente, se recogen los patrones de estas perturbaciones para la generación de imágenes. En la cristalografía se hace lo mismo, pero a gran escala. En este caso sólo se recogen perturbaciones en zonas muy pequeñas y se pueden ver las estructuras locales del material.

El primer microscopio de este tipo fue desarrollado por el mismo grupo en 1999. La de entonces recogía imágenes bidimensionales con una resolución de 70 nanómetros (nm). El recién presentado en la revista Physical Review Letters, sin embargo, puede ver en dos dimensiones estructuras diez veces más pequeñas, con una resolución de 50 nm en tres.

Con esta capacidad el microscopio es capaz de diferenciar estructuras de 8 nm. Aunque todavía no ve los átomos, aumentando la intensidad de los rayos X o alargando el tiempo de exposición, los investigadores creen que lograrán el objetivo. El problema es que no todas las muestras pueden ser bombardeadas durante mucho tiempo. Los materiales fuertes, como los semiconductores, sufrirían un bombardeo, pero las células no. Los láseres de rayos X de alta intensidad son más adecuados pero están en desarrollo.

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Nature
Microscopia