X izpiko mikroskopioa

X izpiak aspalditik erabiltzen dira kristalografian atomoak detektatzeko, baina, zoritxarrez, kristalak osatzen dituzten egituretarako baino ez da baliagarria, hau da, atomoak erregularki antolatzen diren kasuetarako. Eta gure inguruan horrelakoak ez diren egitura asko dago, adibidez, zelulak edo polimeroak.

Standford Unibertsitateko ikertzaileek atomo horiek ikusteko gai izango den mikroskopioa garatu dutela esan dute. Gailu berria hibridoa da, kristalografiaren eta mikroskopioaren ezaugarriak bateratzen baititu. Lagina uhin bakar gisa jokatzen duen X izpien sortarekin bonbardatzen da, hau da, X izpi koherenteen sortarekin. Laginarekin talka egiteak perturbazioak sortzen ditu izpietan eta, hain justu, perturbazio horien patroiak jasotzen dira irudiak sortzeko. Kristalografian gauza bera egiten da, baina eskala handian. Kasu honetan gune oso txikietako perturbazioak baino ez dira jasotzen, eta materialaren egitura lokalak ikus daitezke.

Mota honetako lehen mikroskopioa 1999an garatu zuen talde berak. Ordukoak bi dimentsioko irudiak jasotzen zituen eta 70 nanometroko (nm) bereizmena zuen. Physical Review Letters aldizkarian aurkeztu berri dutenak, aldiz, hamar bider txikiagoak diren egiturak ikus ditzake bi dimentsiotan, eta 50 nm-ko bereizmena du hirutan.

Gaitasun horrekin mikroskopioa gai da 8 nm-ko egiturak bereizteko. Oraindik ez ditu atomoak ikusten, baina X izpien intentsitatea handituz edo esposizio-denbora luzatuz, ikertzaileek uste dute helburua lortuko dutela. Kontua da lagin guztiak ezin direla luzaroan bonbardatu. Material sendoek, erdieroaleek esaterako, bonbardaketa jasango lukete, baina zelulek ez. Intentsitate handiko X izpiko laserrak egokiagoak omen dira, baina garatze-bidean daude.

Informazio gehiago:

Nature
Microscopia