Xips del futur com a font de problemes

1999/02/01 Elhuyar Zientzia Iturria: Elhuyar aldizkaria

• Elektronika

Els enginyers de les principals companyies del sector electrònic han afirmat que els xips que s'utilitzaran en el futur no seran del tot fiables. Segons estudis realitzats a Texas Instruments, Intel i STMicroelectronics, els xips cada vegada més petits poden perdre parts de memòria a causa de les radiacions naturals. Aquestes pèrdues sobtades de memòria causarien grans problemes com a fallades en els sistemes de control d'avions comercials.En els ordinadors actuals s'utilitzen microxips amb transistors de 330-250 nanòmetres. Les avaries produïdes per la radiació en aquests xips són estranyes i habitualment s'han considerat com a conseqüència de virus.

En la dècada vinent, no obstant això, s'estima que en els ordinadors convencionals s'utilitzaran transistors de menys de 180 nanòmetres, i atès que la càrrega elèctrica necessària per a activar-los és molt petita, les radiacions naturals poden veure's afectades. Per exemple, quan els avions comercials van a alta altitud, la radiació de fons provocaria una pèrdua de memòria dels xips. A més de la radiació externa, alguns components dels ordinadors, com el plom de les soldadures, els motlles de silici, són radioactius, per la qual cosa no seria suficient amb envoltar els ordinadors amb una protecció.