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CIC nanoGUNE desarrolla un sistema de espectroscopia infrarroja para muestras a escala nanométrica

2011/06/01 Elhuyar Zientzia Iturria: Elhuyar aldizkaria

CIC nanoGUNE desarrolla un sistema de espectroscopia infrarroja para muestras a escala nanométrica
01/06/2011 | Elhuyar
Gráfico del sistema de espectroscopia infrarroja. En la imagen se pueden ver los espectros de dos óxidos distintos procesados en un dispositivo industrial semiconductor. Ed. : © F. Huth/CIC nanoGUNE.

Un grupo de investigadores de CIC nanoGUNE y Neaspec GmbH (Alemania) han desarrollado un espectrómetro de infrarrojos con una resolución de este tipo de sistemas de espectroscopia infrarroja: nano-FTIR. En el futuro, esta técnica podría utilizarse para estudiar la composición química local y la estructura de composites poliméricos, dispositivos semiconductores, minerales o tejidos biológicos. El trabajo ha sido publicado en la revista Nature Materials.

La absorción de la luz infrarroja es característica de la composición química y de la estructura de los materiales. Por ello, en el espectro infrarrojo se puede ver como la "huella dactilar" de un material. Así, la espectroscopia infrarroja se ha convertido en una herramienta importante para la caracterización e identificación de materiales. Sin embargo, es imposible obtener un mapa de espectroscopía de infrarrojo con instrumentos ópticos convencionales en una sola nanopartículas o moléculas o en dispositivos semiconductores modernos, es decir, a escala nanométrica.

El espectrómetro desarrollado por investigadores de CIC nanoGUNE y Neaspec utiliza una punta metálica apuntada para escanear la superficie de la muestra. Para ello, la punta recibe luz infrarroja de una fuente de energía calorífica. La punta transforma la luz que llega en el extremo en un punto infrarrojo de la escala nanométrica (es decir, nanofoca). Analizando la luz infrarroja dispersada con un espectrómetro especialmente diseñado para ello, los investigadores han podido grabar el espectro infrarrojo de las muestras de volumen ultra bajo una resolución de más de 100 nm.

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