Eskala nanometrikoko laginetarako espektroskopia infragorriko sistema bat garatu dute CIC nanoGUNEn

Espektroskopia infragorriko sistemaren grafikoa. Irudian, gailu industrial erdieroale batean desberdin prozesatutako bi oxidoren espektroak ikus daitezke. Arg.: © F. Huth/CIC nanoGUNE.

Ohiko espektroskopia infragorriko sistemak halako ehuneko bereizmena duen infragorrien espektrometro bat garatu dute CIC nanoGUNEko eta Neaspec GmbHko (Alemania) ikertzaile-talde batek: nano-FTIR. Etorkizunean, konposite polimerikoen, gailu erdieroaleen, mineralen edo ehun biologikoen konposizio kimiko lokala eta egitura aztertzeko erabil liteke teknika hori. Nature Materials aldizkarian argitaratu dute lana.

Argi infragorriaren xurgapena materialen konposizio kimikoaren eta egituraren bereizgarria da. Hori dela eta, espektro infragorrian material baten "hatz-marka" gisa ikus daiteke. Hala, espektroskopia infragorria tresna garrantzitsua bilakatu da materialak karakterizatu eta identifikatzeko. Hala ere, ezinezkoa da ohiko tresna optikoekin infragorriaren espektroskopia-mapa lortzea nanopartikula edo molekula bakarrean edo gailu erdieroale modernoetan; alegia, eskala nanometrikoan.

CIC nanoGUNEko eta Neaspeceko ikertzaileek garatu duten espektrometroak metalezko punta zorrotz bat erabiltzen du laginaren gainazala eskaneatzeko. Horretarako, puntari bero-energiaren iturri batetik argi infragorria iristen zaio. Puntak eskala nanometrikoko puntu infragorri bihurtzen du muturrean iristen zaion argia (hau da, nanofokatu egiten du). Dispertsatutako argi infragorria horretarako bereziki diseinatutako espektrometro batez aztertuta, ikertzaileek bolumen ultratxikiko laginen espektro infragorria grabatu ahal izan dute, 100 nm-ko baino gehiagoko bereizmenarekin.